第一章 X射线的性质 1.1 X射线的本质 考试内容范围说明： 1.2 X射线的产生 掌握Ｘ射线激发原理和两种Ｘ射线谱（连续Ｘ射线谱和特征Ｘ射线谱）的基本特征。 1.3 X射线与物质的交互作用 理解Ｘ射线与物质交互作用基本原理和几种不同作用方式的基本特征及各自的用途。 1.4 X射线的防护 了解Ｘ射线防护基本知识。 考试内容范围说明：Ｘ射线定义；波长范围；X射线的本质属性（波粒二相性）；X射线波动方程；X射线能量与动量表达式及式中各参数物理意义；根据波动性与粒子性对X射线宏观特性的分类； X射线管构成及其基本工作原理；X射线管电压及电流定义；连续（特征）X射线谱随管电压管电流和阳极靶原子序数变化的基本规律及原理；线吸收系数和透射系数的定义及物理意义；质量吸收系统及其决定因素；Z一定时质量吸收系数随入射波长的变化规律及物理意义；X射线真吸收、光电效应、荧光辐射、俄歇电子的定义及物理本质；X射线真吸收的应用；X射线散射的分类；相干散射及非相干散射的定义及物理意义；X射线防护材料选择的依据； 第二章 X射线的衍射方向 2.1引言 了解晶体Ｘ射线衍射学研究的基础、研究的主要问题及晶体几何学基本知识。 2.2 布拉格方程 理解Ｘ射线衍射的基本概念，掌握布拉格方程的推导及讨论；了解布拉格方程的应用 2.3 衍射方法 理解劳埃法、周转晶体法和粉末法三种不同晶体Ｘ射线衍射的基本原理和应用。 考试内容范围说明：考试内容范围说明：14种布喇菲点阵；晶向指数和晶面指数定义及确定；简单点阵的晶面间距公式布拉格方程的推导及物理意义；布拉格角及衍射角的定义；布拉格方程的简化；衍射级数的概念；布拉格方程的讨论；布拉格方程的应用；三种不同晶体X射线衍射的基本原理、应用及异同点的对比； 第三章 X射线的衍射强度 3.1引言 理解多晶Ｘ射线衍射基本概念 3.2多晶体衍射图相的形成 掌握多晶体Ｘ射线衍射图谱形成的基本原理。 3.3单位品胞对 X 射线的散射与结构因数 理解单胞Ｘ射线衍射结构因数公式推导的基本过程，掌握简单、体心和面心三种点阵中结构因数的推导过程。 考试内容范围说明：X射线在晶体中衍射的概念；结构因数表达式及其物理意义；由同类原子组成的简单点阵、体心点阵、面心点阵结构因数的指导及消光规律；洛伦兹因素的物理意义；洛伦兹因素考虑的三种衍射几何条件及其物理意义；影响衍射的其它因数的种类及定义；多晶衍射强度表达公式及其各参数的物理意义； 第四章 多晶体分析方法 4.1引言 了解多晶Ｘ射线衍射分析方法的意义。 4.2德拜-谢乐法 理解德拜德拜-谢乐照相法基本原理及用途。 4.3其他照相法简介 了解对称聚集照相法、背射平板照相法和晶体单色器的基本原理。 4.4 X 射线衍射仪 了解Ｘ射线衍射仪的基本组成，理解Ｘ射线衍射仪的基本工作原理。 考试内容范围说明：德拜相机的构造和基本工作原理；德拜相机中底片的安装方法及各种方法的优缺点；德拜照相法中的误差修正方法；利用德拜照相法结果标定晶体结构的基本过程；对称聚集照相法的工作原理；平板照相法的工作原理；德拜、对称聚集和平板照相三种方法的异同点、优缺点对比；晶体单色器；X射线衍射仪基本结构及工作原理； 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 5.1定性分析 了解Ｘ射线衍射法定性分析的基本原理及JCPDS卡片的组成 5.2定量分析 了解Ｘ射线定量分析的基本过程及可能遇到的困难。 5.3点阵参数的精确测定 了解Ｘ射线法精确测定点阵参数过程中误差的主要来源及对误差进行修正的图解外推法、最小二乘法和标准样校正法的基本原理。 考试内容范围说明：定性分析基本原理；PDF卡片的内容；定性分析基本过程；定量分析基本原理；定量分析单线条法、内标法、K值法及参比强度法基本原理；点阵参数精确确定过程的误差来源、图解外推和最小二乘法基本原理；标准样品校准法基本原理； 第六章 电子光学基础 6.1电子波与电磁透镜 了解电子波的基本特性及电磁透镜的基本组成及工作原理。 6.2 电磁透镜的像差与分辨本领 了解球差、像散和色差三种不同像差产生的基本原理，理解衍射效应和像差对电磁透镜分辨率的影响。 6.3 电磁透镜的景深和焦长 了解电磁透镜景深和焦长物理含义及对二者的影响因素。 考试内容范围说明：光学显微镜分辨率极限；电子波波长特征；电磁透镜的基本结构；电子在电磁透镜中运动轨迹分析；电磁透镜的焦距及放大倍数确定；影响电磁透镜焦距的因素；像差分类及各类像差影响因素、消除方法；分辨率定义；决定电磁透镜分辨率的因素；电磁透镜的景深和焦长定义及其物理意义； 第七章 透射电子显微镜 7.1透射电子显微镜的结构和成像原理 了解透射电子显微镜的基本结构及成像原理。 7.2 主要部件的结构和工作原理 了解样品台、电子束倾斜与平移装置、消像散器和光阑的基本结构及工作原理 7.3透射电子显微镜分辨本领和放大倍数的测定 了解决定透射电子显微镜分辨率的主要因素和测定其放大倍数的基本方法。 考试内容范围说明：透射电子显微镜的基本结构及成像原理；成像操作与电子衍射操作的异同；主要部件：样品平衡与倾斜装置、样品台、光阑、消像散器的结构及工作原理；透射电子显微镜分辨率的分辨率定义、分类；放大倍数确定方法； 第八章 电子衍射 8.1概述 了解电子衍射与Ｘ射线衍射的差别。 8.2电子衍射原理 理解倒易点阵基本概念及爱瓦尔德图解法基本原理，掌握晶带定理及其应用电子衍射的基本原理， 8.3电子显微镜中的电子衍射 了解决定电子衍射产生的主要因素。 8.4单晶体电子衍射花样标定 理解已知和未知晶体结构单晶衍射花样的标定方法。 8.5复杂电子衍射花样 了解复杂电子衍射花样的标定的主要过程。 考试内容范围说明：电子衍射与X射线衍射异同；倒易点阵的性质；爱瓦尔德球图解法推导布拉格方程；倒易点阵的扩展及其对电子衍射的影响；电子衍射基本公式推导；有效相机常数和选区电子衍射定义；简单晶体的电子衍射标定方法；未知晶体标定方法； 第九章 晶体薄膜衍衬成像分析 9.1概述 9.2 薄膜样品的制备方法 了解透射薄膜样品制备的工艺方法。 9.3衍射衬度成像原理 了解衍射衬度基本概念及利用衍射衬度成像的基本原理。 9.4消光距离 了解消光距离的基本概念。 9.5 衍衬运动学 理解衍衬运动学的基本假设、理想晶体衍射强度和衍衬运动学基本方程的推导和应用。 9.6 衍衬动力学简介 了解运动学理论的不足之处与适用范围和完整、不完整晶体运动学方程。 9.7晶体缺陷分析 考试内容范围说明：金属和陶瓷样品薄膜样品的制备基本要求及工艺过程；薄膜样品的衍射衬度成像原理分析（包括明场像、暗场像和中心暗场像）；消光距离定义；衍衬运动学的基本假设；理想晶体的衍射强度； 第十章 扫描电子显微镜 10.1电子束与固体样品作用时产生的信号 了解电子束与固体样品作用时产生信号的种类、特征及应用。 10.2扫描电子显微镜的基本构造和工作原理 了解扫描电子显微镜结构和成像原理。 10.3 扫描电子显微镜的主要性能 了解扫描电子显微镜中电子与固体样品相互作用时产生的各种信号的分辨率及放大倍数测定的主要方法。 10.4 表面形貌衬度原理及其应用 理解扫描电子显微镜中二次电子成像的基本原理及其在断口分析、样品表面形貌观察中的应用 10.5 原子序数衬度原理及其应用 了解扫描电子显微镜中背散射电子、吸收电子成像的基本原理及其应用。 考试内容范围说明：电子束与固体样品作用时产生信号的种类、特征及应用；扫描电子显微镜的结构及工作原理；扫描电子显微镜分辨率及放大倍数的确定方法；二次电子像及背散射电子像的成像及其应用；扫描电子显微镜观察用金属及陶瓷样品的制备方法； 第十一章 电子探针显微分析 11.1电子探针的结构和工作原理 了解波谱仪和能谱仪的结构，理解其工作原理 11.2电子探针的分析方法及应用 了解波谱仪和能谱仪在材料微区元素分析中的应用。 考试内容范围说明：电子探针的分类、结构及工作原理；电子探针定性分析方法的分类及应用； 第十二章 其它显微分析方法 12.1离子探针 了解离子探针的基本工作原理及其在材料表面分析中的应用及局限性。 12.2场离子显微镜与原子探针 了解场离子显微镜的基本工作原理及其在材料分析中的应用。 12.3 扫描隧道显微镜与原子力显微镜 了解扫描隧道显微镜与原子力显微镜的工作原理及其在材料分析中的应用。 考试内容范围说明：离子探针的结构及工作原理；离子探针的工作特点；离子探针的应用；场离子显微镜的基本工作原理及其在材料分析中的应用；扫描隧道显微镜与原子力显微镜的工作原理及其在材料分析中的应用；几种表面微区成分分析技术的性能对比； |